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第355章 晨曦(上)

2026-10-11 16:50:30 作者: 施安拌麵

  春節過去以後,清嘉沒有等來太久。

  二月二十二日凌晨。

  第一批完成製造的晶圓正式下線。

  裝有晶圓的恆溫防震箱由專車送出廠區,兩名清嘉工程師和國家大基金派出的保密人員全程押運。

  車輛抵達京都時,清嘉實驗樓已經封閉了整整六個小時。

  所有參與晶圓篩選、切割和封裝的人員重新核驗身份,手機、手錶和個人電腦全部留在外部保管櫃。

  陳默當天從江城返回京都。

  他推開地下重度防靜電區的大門時,吳華強正躬身立在自動晶圓探針台前,身後黑壓壓圍了一圈工藝與測試專家。

  高倍光學掃描屏上,密密麻麻的未切割裸片如星陣般逐一亮起。

  綠色代表通過。

  紅色代表失效。

  最初十幾顆芯粒點亮的過程中,空曠的淨化間內甚至聽不到呼吸聲。

  直到整張十二英寸晶圓完成第一輪晶圓級初測,機械臂緩緩回位,吳華強才猛地摘下防塵護目鏡,指節發白地按揉著眉心。

  「計算芯粒良率,百分之八十八點七。」

  「控制芯粒,百分之九十三點二。」

  「緩存與存算一體芯粒,全線破九。」

  這些數字放在成熟工藝上談不上驚人。

  但對於一支首次跑通全套異構版圖、首次與本土代工廠進行底層工藝磨合的全新團隊而言,這幾乎堪稱奇蹟。

  更重要的是,將龐大單晶片拆解為微型芯粒的異構方案,在這一刻展現出無可比擬的容錯優勢。

  局部的晶圓缺陷只會吞噬對應的一兩顆微小芯粒,而無需將整塊高成本大晶片全數報廢。

  顧紹庭站在人群後方,眼神冷峻,沒有露出一絲笑意。

  「晶圓能夠通過測試,只能證明每塊積木單獨可用。」

  老人看著探針台上的晶圓。

  「能不能把它們真正拼起來,還要看封裝。」

  

  經過兩天篩選,清嘉從首批晶圓中挑出四組已知良好芯粒。

  計算、控制、緩存和存儲分別完成切割。

  它們被送入提前預留的高密度封裝線,按照最終圖紙放置在中介層上,再通過微凸點和高密度互聯組合成完整系統。

  二月二十七日,深夜二十三點四十分。

  第一枚工程樣片完成封裝封測。

  銀灰色封裝體被固定到測試主板中央。

  所有電源、測量探頭和外部接口完成複查以後,吳華強親手按下啟動按鈕。

  測試台上的指示燈依次亮起。

  供電正常。

  控制芯粒啟動。

  四組緩存完成識別。

  計算芯粒返回第一條狀態信息。

  實驗室里壓抑許久的呼吸聲終於鬆開。

  有人剛要鼓掌,屏幕右下角忽然跳出一行黃色警告。

  第三組存儲通道出現校驗錯誤。

  最初只是一次。

  隨後,錯誤數量開始快速增加。

  第十三分鐘,第三、第四組存儲通道同時中斷。

  第二十一分鐘,調度系統失去響應。

  整塊測試主板自動斷電。

  剛剛出現的一點喜悅迅速消失。

  技術人員立刻更換第二枚樣片。

  結果幾乎完全相同。

  低負載運行正常。

  溫度上升以後,外側存儲通道開始出現錯誤,最終導致整個系統崩潰。

  第三枚樣片甚至只堅持了九分鐘。

  凌晨三點。

  清嘉召開緊急故障分析會。

  時鐘、供電、調度、接口和封裝團隊全部到場。

  有人懷疑多芯粒之間的時鐘同步存在根本缺陷。

  也有人認為,中介層長距離布線在高頻狀態下出現串擾,現有補償算法根本無法維持信號完整性。


  如果這兩個判斷中有任何一個成立,清嘉便要重新修改版圖。

  第二輪流片至少再等兩個月。

  更嚴重的結果,是陳默提出的整套異構架構需要重新論證。

  會議室里的氣氛越來越沉重。

  顧紹庭始終沒有表態。

  他讓各組把原始數據全部投到屏幕上,一項項排除可能性。

  陳默同樣沒有急著開口。

  他知道這條路線能夠成功,卻不知道眼前的故障究竟出在哪裡。

  長達一個半小時的嘈雜推論中,一直坐在長桌最末端的陳靜忽然站了起來。

  「把通道編號換成物理位置。」

  正在操作電腦的工程師沒有聽明白。

  「什麼意思?」

  「不要按照邏輯編號排列。」

  陳靜走到屏幕前。

  「把每一個報錯通道,標回芯粒在封裝體裡的真實位置。」

  工程師迅速調出封裝圖。

  第三組、第四組,以及第二枚樣片出現問題的兩個備用通道,被依次標成紅色。

  所有紅點都集中在中介層外緣。

  會議室逐漸安靜下來。

  陳靜又讓人將溫度曲線與錯誤時間重疊。

  第一批錯誤出現時,幾枚樣片的核心溫度並不相同。

  封裝體邊緣的溫差變化卻幾乎一致。

  「如果是時鐘或者調度邏輯,錯誤應該跟隨通道功能和工作負載變化。」

  陳靜指著屏幕。

  「現在出問題的始終是外緣互聯。」

  「而且每次都發生在第二輪升溫以後。」

  「我懷疑封裝體出現了局部翹曲。」

  封裝團隊負責人立刻說道:「室溫掃描沒有發現裂紋,平整度也在工藝標準以內。」

  「那就不要只測室溫。」

  陳靜看向他。

  「樣片冷卻以後,微凸點可能重新接觸。等溫度升高,材料膨脹係數不同,外緣才會被拉開。」

  「做帶載熱成像和動態阻抗測試。」

  「再取一枚樣片進行破壞性切片。」

  封裝負責人遲疑了一下。

  首批完整樣片總共只有四枚。

  三枚已經用於測試。

  如果再切開一枚,清嘉手裡便暫時沒有完整成片。

  「切。」

  顧紹庭作出決定。

  「現在捨不得一枚樣片,後面報廢的就是整批晶圓。」

  失效分析區連夜啟動。

  第四枚樣片被逐層研磨、拋光和切片。

  上午九點四十分。

  高倍顯微圖像出現在屏幕上。

  中介層外側的幾排微凸點周圍,存在肉眼無法識別的細小裂紋。

  裂紋在室溫下仍能保持接觸。

  經過升溫和通電以後,接觸電阻迅速增大,最終引發信號中斷。

  架構沒有失敗。

  問題出在封裝工藝。

  封裝廠春節期間更換過一批底部填充材料。

  新材料的固化溫度與歐洲測試樣品不同,生產線卻沿用了原來的升溫曲線。

  一次快速升溫,讓中介層、基板和填充材料在冷卻以後形成了額外應力。

  陳靜此前建立的翹曲補償參數沒有錯誤。

  實際封裝條件發生了變化。

  她將新的材料參數寫入模型,又和封裝團隊重新拆分固化過程。

  快速一次升溫被改成分段預固化。

  外緣增加臨時支撐結構。

  壓合、冷卻和應力釋放時間全部重新調整。

  備用封裝線在當天中午開始準備。

  剩餘的已知良好芯粒被緊急送往第二家封測企業。


  溫知夏負責兩地之間的全部協調。

  她讓第二家封測企業暫停原定工程批次,為清嘉騰出一條封裝窗口,又在當天完成新材料確認、保密文件補簽和運輸路線變更。

  原本需要一周才能完成的交接,被壓縮到七十二小時以內。

  三天以後。

  兩枚重新封裝的工程樣片回到清嘉。

  ……


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